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Foto de archivo - Semiconductor silicon wafer undergoing probe testing. Selective focus.

Semiconductor silicon wafer undergoing probe testing. Selective focus.
Identificador de la imagen : 91517081
Tipo de medios : Foto de archivo
Derecho de autor : genkur
4320 x 2880 px | 14.4 " x 9.6 " | 300dpi | JPG
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